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教學激光橢偏儀
產(chǎn)品簡介

教學激光橢偏儀是基于消光法(或稱“零橢偏")測量原理,針對納米薄膜厚度測量領(lǐng)域推出的一款自動測量型教學儀器。BX-G105儀器適用于納米薄膜的厚度測量,以及納米薄膜的厚度和折射率同時測量。 BX-G105儀器還可用于同時測量塊狀材料(如,金屬、半導體、介質(zhì))的折射率n和消光系數(shù)k。

產(chǎn)品型號:BX-G105
更新時間:2025-02-09
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
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關(guān)鍵詞:教學激光橢偏儀

橢偏儀設(shè)備   橢偏儀   激光度儀器   橢偏儀測量   便攜式橢偏儀


G105.jpg

產(chǎn)品用途:

 教學激光橢偏儀是基于消光法(或稱“零橢偏")測量原理,針對納米薄膜厚度測量領(lǐng)域推出的一款自動測量型教學儀器。BX-G105儀器適用于納米薄膜的厚度測量,以及納米薄膜的厚度和折射率同時測量。 BX-G105儀器還可用于同時測量塊狀材料(如,金屬、半導體、介質(zhì))的折射率n和消光系數(shù)k。

儀器特點:

1. 經(jīng)典消光法偏測量原理:儀器采用消光法橢偏測量原理,易于操作者理解和掌握橢偏測量基本原理和過程

2. 方便安quan的樣品水平放置方式:才用水平放置樣品的方式,方便樣品的取放

3. 緊湊的一體化結(jié)構(gòu):集成一體化設(shè)計,簡潔的儀器外形通過USB接口與計算機相連,方便儀器使用

4. 高準確性的激光光源:采用激光作為探測光波,測量波長準確度高

5. 豐富實用的樣品測量功能:可測量納米薄膜的膜厚和折射率、塊狀材料的復折射率等

6. 便捷的自動化操作:儀器軟件可自動完成樣品測量,并可進行方便的測量數(shù)據(jù)分析、儀器校準等操作

7. 安quan的用戶使用權(quán)限管理:軟件中設(shè)置了用戶使用權(quán)限(包括:管理員、操作者等模式),便于儀器管理和使用

8. 可擴展的儀器功能上:利用本儀器,可通過適當擴展,完成多項偏振測量實驗,如馬呂斯定律實驗、旋光測量實驗、旋光等




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